DIS Norme internationale
ISO/DIS 20263
Analyse par microfaisceaux — Microscopie électronique analytique — Méthode de détermination de la position d'interface dans l'image de coupe transversale des matériaux en couches
Numéro de référence
ISO/DIS 20263
Edition 2
DIS
Norme internationale
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ISO/DIS 20263
87682
Indisponible en français
Projet de Norme internationale au stade enquête auprès des membres de l’ISO.
Remplacera ISO 20263:2017

ISO/DIS 20263

ISO/DIS 20263
87682
Langue
Format
CHF 63
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Résumé

ISO 20263:2017 specifies a procedure for the determination of averaged interface position between two different layered materials recorded in the cross-sectional image of the multi-layered materials. It is not intended to determine the simulated interface of the multi-layered materials expected through the multi-slice simulation (MSS) method. This document is applicable to the cross-sectional images of the multi-layered materials recorded by using a transmission electron microscope (TEM) or a scanning transmission electron microscope (STEM) and the cross-sectional elemental mapping images by using an energy dispersive X-ray spectrometer (EDS) or an electron energy loss spectrometer (EELS). This document is also applicable to the digitized image recorded on an image sensor built into a digital camera, a digital memory set in the PC or an imaging plate and the digitalized image converted from an analogue image recorded on the photographic film by an image scanner.

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