Résumé
Le présent document spécifie une méthode de mesure de l'épaisseur de revêtements métalliques consistant à former tout d'abord un gradin entre la surface du revêtement et la surface de son substrat, puis à mesurer la hauteur de ce gradin à l'aide d'un instrument à enregistreur de profil. Il indique les caractéristiques d'appareillage et le mode opératoire convenant à cette application particulière des méthodes profilométriques.
La méthode est applicable au mesurage de l'épaisseur de revêtements métalliques de 0,01 µm à 1 000 µm sur des surfaces planes et, en prenant les précautions appropriées, sur des surfaces cylindriques. Elle convient particulièrement au mesurage de très faibles épaisseurs; toutefois, pour les épaisseurs inférieures à 0,01 µm, pour lesquelles la planéité et le poli de la surface sont très critiques, il n'est pas approprié d'utiliser cette méthode au niveau minimal de mesurage habituel pour les instruments électroniques à palpeur. Cette méthode convient pour le mesurage des épaisseurs de revêtements lors de la fabrication d'étalons d'épaisseurs.
Informations générales
-
État actuel: PubliéeDate de publication: 2021-04Stade: Norme internationale publiée [60.60]
-
Edition: 2Nombre de pages: 9
-
Comité technique :ISO/TC 107ICS :25.220.40
- RSS mises à jour
Cycle de vie
-
Précédemment
AnnuléeISO 4518:1980
-
Actuellement