Le dernier examen de cette norme date de 2021.
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Résumé
PrévisualiserISO 25178-72:2017 définit le format de fichier XML x3p pour le stockage et l'échange des données de topographie et de profils.
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État actuel: PubliéeDate de publication: 2017-05
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Edition: 1Nombre de pages: 25
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Comité technique: ISO/TC 213 Spécifications et vérification dimensionnelles et géométriques des produits
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- ICS :
- 17.040.20 Etat de surfaces
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std 1 124 | ||
std 2 124 | Papier |
- CHF124
Cycle de vie
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Actuellement
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Préliminaire
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Proposition
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Préparation
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30
Comité
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Enquête
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50
Approbation
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Publication
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90
Examen
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95
Annulation
Rectificatifs techniques / Amendements
PubliéeISO 25178-72:2017/Amd 1:2020
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00
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