Le dernier examen de cette norme date de 2022.
Cette édition reste donc d’actualité.
Résumé
PreviewISO 13083:2015 describes a method for measuring the spatial (lateral) resolution of scanning capacitance microscopes (SCMs) or scanning spreading resistance microscopes (SSRMs), which are widely used in imaging the distribution of carriers and other electrical properties in semiconductor devices. The method involves the use of a sharp-edged artefact.
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État actuel: PubliéeDate de publication: 2015-08
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Edition: 1
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- ICS :
- 71.040.40 Méthodes d'analyse chimique
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