ISO 2128:2010

Publiée (Edition 2, 2010)

Cette publication a été révisée et confirmée pour la dernière fois en 2022. Cette édition reste donc d’actualité.

ISO 2128:2010

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Résumé

L'ISO 2128:2010 spécifie une méthode non destructive pour déterminer l'épaisseur des couches anodiques sur l'aluminium et ses alliages en utilisant un microscope à coupe optique.

Cette méthode est applicable, dans la plupart des cas industriels, aux couches anodiques d'épaisseur supérieure à 10 µm, ou supérieure à 5 µm lorsque la surface est lisse.

L'utilisation de la méthode spécifiée est limitée par la nécessité que les deux lignes lumineuses décrites dans le principe soient visibles et nettement séparées, c'est-à-dire qu'elle n'est pas applicable aux couches opaques ou de couleurs sombres.

Informations générales

État actuel
: Publiée

Date de publication
: 2010-09

Stade
: Norme internationale confirmée [90.93]
Edition
: 2

Nombre de pages
: 3
Comité technique :
ISO/TC 79/SC 2

ICS :
25.220.20
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