Reference number
ISO 6342:2003
© ISO 2025
International Standard
ISO 6342:2003
Micrographics — Aperture cards — Method of measuring thickness of buildup area
Edition 2
2003-07
Preview
Indisponible en français
Publiée (Edition 2, 2003)
Cette publication a été révisée et confirmée pour la dernière fois en 2021. Cette édition reste donc d’actualité.

ISO 6342:2003

Langue
Format
CHF 43
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Résumé

ISO 6342:2003 specifies a method of measuring the thickness of the buildup area on aperture cards (camera and copy cards) for manufacturing and inspection purposes.

Informations générales

  • État actuel
     : Publiée
    Date de publication
     : 2003-07
    Stade
    : Norme internationale confirmée [90.93]
  • Edition
     : 2
  • Comité technique :
    ISO/TC 171
    ICS :
    37.080 
  • RSS mises à jour

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