ISO 20341:2003
p
ISO 20341:2003
34162
Indisponible en français

Résumé

 Preview

ISO 20341:2003 specifies procedures for estimating three depth resolution parameters, viz the leading-edge decay length, the trailing-edge decay length and the Gaussian broadening, in SIMS depth profiling using multiple delta-layer reference materials.

It is not applicable to delta-layers where the chemical and physical state of the near-surface region, modified by the incident primary ions, is not in the steady state.


Informations générales 

  •  :  Publiée
     : 2003-07
  •  : 1
  •  : ISO/TC 201/SC 6 Spectrométrie de masse des ions secondaires
  •  :
    71.040.40 Méthodes d'analyse chimique

Acheter cette norme

fr
Format Langue
std 1 40 PDF
std 2 40 Papier
  • CHF40

Cycle de vie


Vous avez une question?

Consulter notre FAQ

Service à la clientèle
+41 22 749 08 88

Horaires d’ouverture:
De lundi à vendredi - 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

Suivez l'actualité de l'ISO

Inscrivez-vous à notre Newsletter (en anglais) pour suivre nos actualités, points de vue et informations sur nos produits.