ISO/TC 201/SC 10 - Analyse par réflectométrie de rayons X et par fluorescence de rayons X

Informations

Secrétariat: JISC (Japon)

Manager du comité:

Dr Yasushi Azuma
Président(e) (jusqu'à fin 2030):

Dr Toshiyuki Fujimoto
Responsable de programmes techniques ISO [TPM]:

Mr David Hassan

Responsable éditorial ISO [EM]:

Mr Arun ABY Paraecattil
Date de création: 2016

Domaine des travaux

Normalisation des méthodes pour la spécification des instruments, de leur étalonnage et de leur fonctionnement, pour l'acquisition, le traitement et l'analyse des données pour l'utilisation de la réflectométrie de rayons X (XRR) et la fluorescence de rayons X (XRF) en analyse de la composition chimique et structurelle des surfaces.

Liens utiles

Programme technique

Projets de travail et nouveaux projets préliminaires
Espace de travail

Documents de travail (compte utilisateur nécessaire)
Applications électroniques ISO

Outils TI pour l'élaboration des normes

Ce comité contribue avec 4 normes auxObjectifs de développement durable suivants :

Bonne santé et bien-être

Éducation de qualité

Eau propre et assainissement

Énergie propre et d'un coût abordable

Industrie, innovation et infrastructure

Mesures relatives à la lutte contre les changements climatiques

1

Norme ISO publiée *

3

Projets de normes ISO *

13

Membres participants

2

Membres observateurs

* ce nombre inclut les mises à jour

Référence	Titre	Type
ISO/TC 201/SC 10/WG 1	Technique par fluorescence X (XRF)	Groupe de travail

Comités en liaison depuis le ISO/TC 201/SC 10

ISO/TC 201/SC 10 peut accéder aux documents des Comités ci-dessous :

Référence	Titre	ISO/CEI
ISO/TC 147	Qualité de l'eau	ISO
ISO/TC 202	Analyse par microfaisceaux	ISO
ISO/TC 229	Nanotechnologies	ISO

Date	Mois	Lieu	TC/SC	Note
10	Septembre 2025	Berlin (Germany)	ISO/TC 201/SC 10

* Information définitive mais réunion pas encore convoquée
** Provisoire

ISO/TC 201/SC 10 - Secrétariat

JISC (Japon)

一般社団法人表面化学分析技術標準化委員会

#202 Belcom Tsukuba Building
1-2-3 Ninomiya,
Tsukuba
Ibaraki 305-0051
Japon