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Domaine des travaux

Normalisation des méthodes pour la spécification des instruments, de leur étalonnage et de leur fonctionnement, pour l'acquisition, le traitement et l'analyse des données pour l'utilisation de la réflectométrie de rayons X (XRR) et la fluorescence de rayons X (XRF) en analyse de la composition chimique et structurelle des surfaces.

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1

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12
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* ce nombre inclut les mises à jour

Référence Titre Type
ISO/TC 201/SC 10/WG 1   Technique par fluorescence X (XRF) Groupe de travail

 

Comités en liaison depuis le ISO/TC 201/SC 10

ISO/TC 201/SC 10 peut accéder aux documents des Comités ci-dessous :

Référence Titre ISO/CEI
ISO/TC 147 Qualité de l'eau ISO
ISO/TC 202 Analyse par microfaisceaux ISO
ISO/TC 229 Nanotechnologies ISO

ISO/TC 201/SC 10 - Secrétariat

JISC [Japon]

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