ISO/AWI TS 23879
Nanotechnologies — Structural characterization of graphene oxide flakes: thickness and lateral size measurement using AFM and SEM
Reference number
ISO/AWI TS 23879
Edición 1
Working draft
ISO/AWI TS 23879
84861
Un grupo de trabajo ha preparado un borrador.

Resumen

This document describes methods for measuring the lateral size and thickness of graphene oxide (GO) flakes using scanning electron microscopy (SEM) and atomic force microscopy (AFM) respectively, including sample pre-treatments, measurement procedures and data analysis. It is applicable to the characterization of graphene oxide in powder and liquid dispersion forms.

Informaciones generales

  •  : En desarrollo
    : Nuevo proyecto registrado en el programa de trabajo TC/SC [20.00]
  •  : 1
  • ISO/TC 229
  • RSS actualizaciones

¿Tiene alguna duda?

Consulte nuestras Ayuda y asistencia

Atención al cliente
+41 22 749 08 88

Horario de asistencia:
De lunes a viernes - 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)