Draft
International Standard
ISO/DIS 16666
Surface chemical analysis — Total reflection X-ray fluorescence — Principles and general requirements
Reference number
ISO/DIS 16666
Edition 1
© ISO 2025
Proyecto Norma internacional
En desarrollo
Este borrador de Norma Internacional se encuentra en la fase de consultas con los miembros de ISO.

Resumen

This document specifies terms and definitions for analytical methods where elements are identified and their concentrations determined by measuring X ray fluorescence radiation. The aim of this document is to establish terms and definitions for TXRF and to match these with terms and definitions relating to X ray fluorescence analysis.

Informaciones generales

  • Estado
     : En desarrollo
    Etapa
    : DIS registrado [40.00]
  • Edición
     : 1
    Número de páginas
     : 24
  • Comité Técnico :
    ISO/TC 201/SC 10
    ICS :
    71.040.40 
  • RSS actualizaciones

Ciclo de vida

Objetivos de Desarrollo Sostenible

Esta norma contribuye a los siguientes Objetivos de Desarrollo Sostenible

3
Good Health and Well-being
4
Quality Education
6
Clean Water and Sanitation
7
Affordable and Clean Energy
9
Industry, Innovation and Infrastructure
13
Climate Action

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