Draft
International Standard
ISO/DIS 13084
Surface chemical analysis — Secondary ion mass spectrometry — Calibration of the mass scale for a time-of-flight secondary ion mass spectrometer
Reference number
ISO/DIS 13084
Edition 3
Проект Международный стандарт
Preview
ISO/DIS 13084
90332
недоступно на русском языке
Проект данного международного стандарта находится на этапе рассмотрения членами ИСО.
Текущее издание: ISO 13084:2018

ISO/DIS 13084

ISO/DIS 13084
90332
Язык
Формат
CHF 65
Пересчитать швейцарские франки (CHF) в ваша валюта

Тезис

This document specifies a method to optimize the mass calibration accuracy in time-of-flight secondary ion mass spectrometry (SIMS) instruments used for general analytical purposes. It is only applicable to time-of-flight instruments but is not restricted to any particular instrument design. Guidance is provided for some of the instrumental parameters that can be optimized using this procedure and the types of generic peaks suitable to calibrate the mass scale for optimum mass accuracy.

Общая информация

  •  : В стадии разработки

    You can help develop this draft international standard by contacting your national member

    : Начало голосования по проекту между-народно-го стандарта: 3 мес. [40.20]
  •  : 3
  • ISO/TC 201/SC 6
    71.040.40 
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ