IEC/TR 63258:2021
p
IEC/TR 63258:2021
75422
недоступно на русском языке

Текущий статус : Опубликовано

ru
Формат Язык
std 1 40 PDF
std 2 40 Бумажный
  • CHF40
Пересчитать швейцарские франки (CHF) в ваша валюта

Тезис

IEC TR 63258:2021 is a Technical Report focused on the practical protocol of ellipsometry to evaluate the thickness of nanoscale films. This document does not include any specification of the ellipsometers, but suggests how to minimize the data variation to improve data reproducibility.

Preview 

Вы можете ознакомиться с данным стандартом в нашей онлайн-библиотеке (OBP)

Общая информация

  •  : Опубликовано
     : 2021-03
    : Опубликование международного стандарта [60.60]
  •  : 1
  • ISO/TC 229
    07.120 
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Цели в области устойчивого развития

Данный стандарт разработан для достижения следующих Цель устойчивого развития

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)