Reference number
ISO/TS 24597:2011
Technical Specification
ISO/TS 24597:2011
Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Methods of evaluating image sharpness
Edition 1
2011-06
Technical Specification
Preview
ISO/TS 24597:2011
55760
недоступно на русском языке
Опубликовано (Версия 1, 2011)
Последний раз этот публикация был пересмотрен в  2023. Поэтому данная версия остается актуальной.

ISO/TS 24597:2011

ISO/TS 24597:2011
55760
Язык
Формат
CHF 216
Пересчитать швейцарские франки (CHF) в ваша валюта

Тезис

ISO/TS 24597:2011 specifies methods of evaluating the sharpness of digitized images generated by a scanning electron microscope by means of a Fourier transform method, a contrast-to-gradient method and a derivative method.

Общая информация

  •  : Опубликовано
     : 2011-06
    : Подтверждение действия международного стандарта [90.93]
  •  : 1
  • ISO/TC 202/SC 4
    37.020 
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ