ISO 24173:2009
Microbeam analysis — Guidelines for orientation measurement using electron backscatter diffraction
Reference number
ISO 24173:2009
Версия 1
2009-09
В время отменен
ISO 24173:2009
42052
Отозвано (Версия 1, 2009)

Тезис

ISO 24173:2009 gives advice on how to generate reliable and reproducible crystallographic orientation measurements using electron backscatter diffraction (EBSD). It addresses the requirements for specimen preparation, instrument configuration, instrument calibration and data acquisition.

Общая информация

  •  : Отозвано
     : 2009-09
    : Отмена международного стандарта [95.99]
  •  : 1
  • ISO/TC 202
    71.040.50 
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Цели в области устойчивого развития

Данный стандарт разработан для достижения следующих Цель устойчивого развития

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ