Тезис

ISO 17470:2004 gives guidance for the identification of elements and the investigation of the presence of specific elements, within a specific volume, contained in a specimen, by analysing X-ray spectra obtained using wavelength dispersive X-ray spectrometers on an electron probe microanalyser or on a scanning electron microscope.


Общая информация 

  • Текущий статус
     :  Withdrawn
    Дата публикации
     : 2004-09
  • Версия
     : 1
  • Технический комитет
     : ISO/TC 202/SC 2 Electron probe microanalysis
  • ICS
     :
    71.040.99 Other standards related to analytical chemistry

Жизненный цикл


Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

Будьте в курсе актуальных новостей ИСО

Подписывайтесь на наши новости, обзоры, а также на информацию о продуктах.

  2. Интернет-магазин
  3. Каталог стандартов
  4. ТК
  5. ISO/TC 202/SC 2
  6. ISO 17470:2004