Тезис
ISO 14594:2003 gives the general guidelines for the determination of experimental parameters relating to the primary beam, the wavelength spectrometer and the sample that need to be taken into account when carrying out electron probe microanalysis. It also defines procedures for the determination of beam current, current density, dead time, wavelength resolution, background, analysis area, analysis depth and analysis volume.
ISO 14594:2003 is intended for the analysis of a well-polished sample using normal beam incidence, and the parameters obtained may only be indicative for other experimental conditions.
Общая информация
-
Текущий статус: ОтозваноДата публикации: 2003-08Этап: Отмена международного стандарта [95.99]
-
Версия: 1
-
Технический комитет :ISO/TC 202/SC 2ICS :71.040.50
- RSS обновления
Жизненный цикл
-
Сейчас
-
00
Предварительная стадия
-
10
Стадия, связанная с внесением предложения
-
20
Подготовительная стадия
-
30
Стадия, связанная с подготовкой проекта комитета
-
40
Стадия, связанная с рассмотрением проекта международного стандарта
-
50
Стадия, на которой осуществляется принятие стандарта
-
60
Стадия, на которой осуществляется публикация
-
90
Стадия пересмотра
-
95
Стадия, на которой осуществляется отмена стандарта
Исправления
Исправление текущего издания; предоставляются бесплатно; не включены в текст действующего стандарта.ОтозваноISO 14594:2003/Cor 1:2009
-
00
-
Пересмотрен
ОтозваноISO 14594:2014